^Наверх

Интеллектуальные информационные, измерительные и управляющие системы.

Информация о МИП "ИИС"

Последние новости

  • Скан1

     

    Поздравляем Данила Вадимовича,

    благодарим за существенный вклад в развитие науки

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    Certified-LabVIEW-Developer rgbПоздравляем Дуброва Вячеслава

     

    Игорьевича с успешной сдачей экзамена на  разработчика LabVIEW Developer.

     

     

 Комплекс для экспресс-контроля магнитных параметров магнитных материалов и изделий из них КЭК-03-МММ-150. 

123

Предназначен для испытаний магнитных материалов, формированных заготовок толщиной до 1 см и электротехнической продукции на соответствие требуемым параметрам: значению магнитной проницаемости, значению величины магнитных потерь, диагностика и мониторинг технического состояния электротехнических изделий с помощью измерения и анализа их вебер-амперных характеристик.  

327

Разработан метод бессенсорного определения магнитной характеристики ЭТИ, отличающийся от известных тем, что выполняет периодическое измерение активной составляющей сопротивления обмотки с последующей линейно-ступенчатой аппроксимацией ее значений между измерениями. Разработан прибор для экспресс-контроля магнитных характеристик электротехнических изделий с компенсацией температурной погрешности. Прибор реализован с помощью оборудования National Instruments (США) и разработанного управляемого источника тока. Интерфейс программы реализован в программной среде LabView.

За счет компенсации температурной погрешности обеспечивается высокая точность определения магнитных характеристик электротехнических изделий. За счет применения современной системы сбора данных и управления на базе технологий компании National Instruments обеспечивается высокая надежность, гибкая настройка под конкретные задачи, возможность встраивания в практически любой технологический процесс и обеспечивается возможность мониторинга технического состояния электротехнических изделий. Устройство обеспечивает синусоидальный режим изменения напряженности магнитного поля, установленный ГОСТом.

Технические характеристики:

высокая точность за счет компенсации температурной погрешности (до 5 %); 

намагничивающий ток до – 10 А;

частота намагничивающего поля – от 0.1 до 50 Гц;

время измерения вебер-амперной характеристики – до 10 секунд;

автоматическая обработка измеренных характеристик и их анализ при удобном сохранении результатов.

Устройство обеспечивает синусоидальный режим изменения напряженности магнитного поля, установленный ГОСТ  8.377-80.

 

Работа ведется при поддержке Фонда содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере.

Правовая защита результатов интеллектуальной деятельности: Свид. о рег. программы для ЭВМ № 2007610158, переданное в соответствии с лицензионным договором № 1948-ЮУ от 20.12.2012 между ФГБОУ ВПО «ЮРГТУ(НПИ)» и ООО «МИП «ИИС»